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Planum-3000 光學(xué)元件光譜分析儀
Planum-3000光學(xué)元件光譜分析儀⽤于快速測(cè)量各類平⾯光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進(jìn)⾏多⻆度絕對(duì)反射率、相對(duì)反射率、透射率測(cè)量，偏振光（S、P、(S+P)/2 ）測(cè)量，顏⾊測(cè)量等。
儀器特點(diǎn)
1. 可快速測(cè)量任意⻆度絕對(duì)反射率、透過(guò)率；
2. 樣品檢測(cè)范圍⼴，實(shí)時(shí)導(dǎo)出樣品數(shù)據(jù)及CIE顏⾊值；
3. 光學(xué)⽆損檢測(cè)，檢測(cè)速度極快，毫秒級(jí)。
測(cè)量對(duì)象
技術(shù)參數(shù)
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